ຄໍາຮ້ອງສະຫມັກ | ເປີດຕົວເຄື່ອງມືທີ່ເພີ່ມປະສິດທິພາບການທົດສອບການສາກໄຟໄວ 100%

ດ້ວຍການຮັບຮອງເອົາອຸປະກອນອັດສະລິຍະຢ່າງແຜ່ຫຼາຍເຊັ່ນ: ໂທລະສັບສະຫຼາດແລະແທັບເລັດ, ຕະຫຼາດອະແດບເຕີການສາກໄຟໄວຍັງສືບຕໍ່ເຕີບໂຕ. ອີງ​ຕາມ​ຂໍ້​ມູນ​ຂອງ​ພາກ​ສ່ວນ​ທີ​ສາມ​, ຂະ​ຫນາດ​ຕະ​ຫຼາດ​ອຸດ​ສາ​ຫະ​ກໍາ​ໄດ້​ບັນ​ລຸ 17.9 ຕື້​ຢວນ​ໃນ​ປີ 2024​, ເພີ່ມ​ຂຶ້ນ 16​% ຂອງ​ປີ​ຕໍ່​ປີ​.  

ເພື່ອເພີ່ມປະສົບການການສາກໄຟຂອງຜູ້ໃຊ້ ແລະ ຫຼຸດຜ່ອນເວລາສາກໄຟ, ເທັກໂນໂລຢີການສາກໄວໄດ້ປະກົດຂຶ້ນ. ໃນປັດຈຸບັນ, ພະລັງງານການສາກໄຟໄວຕົ້ນຕໍໃນປະເທດຈີນເກີນ 65W, ມີອັດຕາການເຈາະສູງເຖິງ 96%. ມາດຕະຖານການເຮັດວຽກສ່ວນໃຫຍ່ແມ່ນປະກອບມີ PD, QC, AFC, PE, FCP, SCP, VOOC, ແລະອື່ນໆ.  

ການໂຫຼດຊ່ອງດຽວແບບດັ້ງເດີມຄອບຄອງພື້ນທີ່, ຈໍາກັດປະສິດທິພາບການທົດສອບຫ້ອງດຽວ.

ເພື່ອຮັບປະກັນປະສິດທິພາບການທົດສອບການສາກໄຟໄວ, ອຸດສາຫະກໍາປົກກະຕິແລ້ວໃຊ້ ATE (ອຸປະກອນທົດສອບອັດຕະໂນມັດ) ສໍາລັບການທົດສອບການສາກໄຟໄວຫຼາຍຊ່ອງ. ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ໂດຍຂໍ້ຈໍາກັດພື້ນທີ່ຂອງການໂຫຼດເອເລັກໂຕຣນິກ desktop ແບບດັ້ງເດີມ, ການທົດສອບປະເຊີນກັບຈຸດເຈັບປວດດັ່ງຕໍ່ໄປນີ້:  

• ຄວາມສາມາດໃນການທົດສອບຈໍາກັດ, ຄ່າໃຊ້ຈ່າຍສູງ, ແລະການບໍລິໂພກພື້ນທີ່

ການໂຫຼດການທົດສອບການສາກໄວແບບຊ່ອງດຽວແບບດັ້ງເດີມໃຊ້ພື້ນທີ່ 2U ເຄິ່ງກວ້າງ, ແລະອຸປະກອນທົດສອບ ATE ດຽວປົກກະຕິຮອງຮັບ 4.-8 ເຄື່ອງສາກໄວ/ອະແດັບເຕີສຳລັບການທົດສອບພ້ອມໆກັນ. ທ່າມກາງການຂະຫຍາຍຕົວຢ່າງໄວວາຂອງການສາກໄຟໄວ, ຄວາມສາມາດໃນການທົດສອບຂອງຕູ້ດຽວໄດ້ບັນລຸເພດານຂອງມັນ. ການຮັບຮອງເອົາຫົວຫນ່ວຍການໂຫຼດເພີ່ມເຕີມສໍາລັບການທົດສອບຈະຮຽກຮ້ອງໃຫ້ມີພື້ນທີ່ຫຼາຍແລະຄ່າໃຊ້ຈ່າຍທີ່ສູງຂຶ້ນ.  

• ໂປຣໂຕຄອນສາກໄວທີ່ຫຼາກຫຼາຍ

ຕະຫຼາດມີໂປໂຕຄອນການສາກໄວຕ່າງໆເຊັ່ນ USB PD, QC, ແລະ PE. ອຸປະກອນການທົດສອບຕ້ອງມີຄວາມເຂົ້າກັນໄດ້ຢ່າງກວ້າງຂວາງເພື່ອຕອບສະຫນອງຄວາມຕ້ອງການການທົດສອບຂອງອະແດບເຕີການສາກໄຟໄວທີ່ແຕກຕ່າງກັນ.   

• ການວັດແທກຄວາມສົມບູນແລະຄວາມຖືກຕ້ອງຂອງພາລາມິເຕີ

ຂະບວນການທົດສອບຮຽກຮ້ອງໃຫ້ມີການຈໍາລອງຂະບວນການສາກໄຟທັງຫມົດ, ລວມທັງກະແສຄົງທີ່, ແຮງດັນຄົງທີ່, ແລະການສາກໄຟ trickle, ເຊັ່ນດຽວກັນກັບການວັດແທກຄວາມແມ່ນຍໍາສູງຂອງຕົວກໍານົດການ (ແຮງດັນ, ປະຈຸບັນ, ພະລັງງານ, ripple) ເພື່ອບັນລຸການຈໍາລອງຄວາມຊື່ສັດສູງຂອງສະພາບທີ່ແທ້ຈິງ.  

ການໂຫຼດອີເລັກໂທຣນິກຫຼາຍຊ່ອງສະໜັບສະໜູນໂປຣໂຕຄໍທັງໝົດຊ່ວຍເພີ່ມປະສິດທິພາບການທົດສອບການສາກໄວໄດ້ 100%

ເພື່ອແກ້ໄຂບັນຫາການທົດສອບເຫຼົ່ານີ້, NGI ໄດ້ພັດທະນາການທົດສອບການສາກໄຟໄວຫຼາຍຊ່ອງຊຸດ N61200, ເຊິ່ງກົງກັບການທົດສອບການສາກໄຟໄວ ATE bench ຢ່າງສົມບູນ. ຜະ​ລິດ​ຕະ​ພັນ​ສະ​ຫນອງ​ຄຸນ​ສົມ​ບັດ​ດັ່ງ​ຕໍ່​ໄປ​ນີ້​:  

• ການເຊື່ອມໂຍງສູງ

ຫນ່ວຍຫນຶ່ງທົດແທນສີ່, ປະສົມປະສານ 4 ຊ່ອງໃນຊ່ອງເຄິ່ງຄວາມກວ້າງ 2U. ເມື່ອປຽບທຽບກັບການໂຫຼດອີເລັກໂທຣນິກຊ່ອງດຽວແບບດັ້ງເດີມ, ຄວາມສາມາດໃນການທົດສອບຂອງຕູ້ ATE ດຽວແມ່ນເພີ່ມຂຶ້ນ 100%.  

• ໂປຣໂຕຄອນສາກໄວທີ່ອຸດົມສົມບູນ

ຮອງຮັບຟັງຊັນການທົດສອບການສາກໄຟໄວທາງເລືອກ, ລວມທັງ USB PD2.0/PD3.0/PD3.1, QC 2.0/QC 3.0/QC4.0+, PE+/PE+2.0, FCP, SCP, AFC, ແລະອື່ນໆ. ມັນເຮັດໃຫ້ການກວດສອບປະສິດທິພາບຂອງອະແດບເຕີການສາກໄຟໄວພາຍໃຕ້ໂປໂຕຄອນທີ່ແຕກຕ່າງກັນ.  

• ມັນຕິ

ຮອງຮັບ 8 ໂຫມດການທົດສອບ, ລວມທັງ CC, CV, CR, CP, CV+CC, CV+CR (CR-LED), CR+CC, ແລະ CP+CC, ຕອບສະຫນອງຄວາມຕ້ອງການການທົດສອບຂອງອຸປະກອນຕ່າງໆເຊັ່ນ: ຫົວສາກໄວ, ອະແດບເຕີ, ການສະຫນອງພະລັງງານ LED, ແລະໂມດູນສະຫຼັບພະລັງງານ.  

• ຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ

ຄວາມຖືກຕ້ອງຂອງແຮງດັນຂອງ 0.025% + 0.025% FS, ຄວາມຖືກຕ້ອງຂອງປະຈຸບັນ 0.03% + 0.05% FS, ມີການອອກແບບສອງລະດັບສໍາລັບແຮງດັນ, ປະຈຸບັນ, ຄວາມຕ້ານທານ, ແລະພະລັງງານ. ມັນຮັບປະກັນການວັດແທກທີ່ຊັດເຈນຂອງຕົວກໍານົດການ U / I / P ພາຍໃຕ້ເງື່ອນໄຂການທົດສອບທີ່ແຕກຕ່າງກັນ.  

ສະຫນັບສະຫນູນຫນ້າທີ່ເຊັ່ນ: ການວັດແທກ ripple, ຜົນກະທົບການໂຫຼດ, ແລະການທົດສອບ OCP / OVP / OPP ເພື່ອຕອບສະຫນອງຄວາມຕ້ອງການຄໍາຮ້ອງສະຫມັກຕ່າງໆ.